Mikroskop TEM için Hazırlama Yöntemleri

Transmisyon elektron mikroskobu (TEM ) incelemek ve çok yüksek çözünürlüklerde malzemeleri karakterize etmek için kullanılan bir tekniktir . Yüksek enerjili elektron ışın numune amaçlanmaktadır. Bu elektronların bazılarınumune boyunca iletilir ve bir görüntü kaydedilir bir detektör üzerine odaklanmıştır. Diğer sinyallernumune boyunca iletilen ve geri huzmesi kaynağına doğru dağılmış olmayan elektron örneğin , kaydedilebilir. Bu araştırmacılar , malzemelerin özelliklerini yardımcı olacak ek bilgiler sağlar . Yüksek kaliteli görüntüler çok dikkatliuygun tekniği kullanılarak hazırlanan olmaya örnekleri gerektirir. Örnek Kalınlığı

Kaydetmek istediğiniz TEM görüntütürü, numune hazırlamak gerekir hangişekilde belirler. Bununla birlikte, tüm durumlarda,örnek elektrondetektörü bir görüntünumune boyunca geçmek ve oluşturmak için izin vermek için yeterince ince olmalıdır. Örnekler kalın , genellikle 10-300 nanometre (nm ) 'dir. Element bileşiminin okuyan zaman , tiner örnekleri tipik kullanılır. Rutin görüntüleme için , görüntü çözünürlüğü ve örnek istikrar arasında bir uzlaşma gereklidir , ve yaklaşık 100 nm orta kalınlığı kullanılır . Yaklaşık 300 nm kalınlığında numunelernumunenin yüzeyininşekli hakkında bilgi kaydetmek için kullanılır .
Toz Örnekleri

Toz örnekleri örnekkolay ve en hızlı tipi vardır TEM görüntüleme için hazırlar. Numune daha önce toz değilse, ezilmiş ve ince bir toz halinde öğütülür - örneğin, bir havan ve tokmağı kullanarak - ya da örnek nanopartiküllerin oluşuyorsa , o zaman taşlama gerekli değildir. Bu toz daha sonra numune , bir çözelti vermek üzere nispeten uçucu bir çözücü içinde çözülür. Bu, daha sonra bir Pasteur pipeti kullanılarak çapında dairesel bir bakır ızgara üzerine 3 mm düşmüştür. Çözücü, ızgara üzerinde numuneyi terk buharlaşmaya bırakılır. Bakır ızgaraTEM numune tutucu üzerine monte ve eklenir .
Mekanik parlatılması

Bazen numunenin kadar eziyet ve çözmek mümkün değildir Örneğin,örnek belirli bir bölgeye bakmak istiyorum - bir çözüm o . Bunun yerine, makine numunenizin parçası ve daha sonra dilimler halinde kesebilir . Bu dilimler, daha sonra bir numune tutucuya monte edilmiş ve mekanik olarak gerekli kalınlıkta incelmiş . Mekanik incelmesi olan bir girinti ya da tekerlek düzlemsel öğütücü kullanılarakistenen kalınlığamonte edilmiş numunesinin öğütülmesi ile elde edilir. Eskimerkezinden daha kalınnumunenin kenarları yapmayararı vardır ve burkulma gelenörnek engeller .
Elektro ve İyon - Işın Freze

İki daha gelişmiş teknikler elektro ve iyon demeti freze denir . Elektro bir elektrokimyasal hücrede bir elektrot olarakörneği kullanır . Zıt yüklü bir elektrot "elektrolit jet" ve kat olarak gerekli kalınlıktaörnek hareket eder. Bu teknik, görüntüleme sırasında yük birikmesini önlemek ve kaydedilen görüntünün kalitesini artırmak için , bu tür bir karbon gibi ek bir tabaka ile kaplanması için örnek, avantajına sahiptir. Numunenin yüzeyinden iyon demeti freze patlamalar atomlar ağır iyonların yoğun bir ışın kullanılarakgereken kalınlıkta kadar .